LEEM-17 RLC Circuit Experiment

Փորձարկումներ
1. Դիտեք RC, RL և RLC սխեմաների ամպլիտուդա-հաճախականության բնութագրերը և փուլային հաճախականության բնութագրերը.
2. Դիտել RLC շղթայի շարքը և զուգահեռ ռեզոնանսային երևույթները;
3. Դիտեք RC և RL սխեմաների անցողիկ ընթացքը և չափեք τ ժամանակի հաստատունը;
4. Դիտեք RLC շարքի շղթայի անցողիկ ընթացքը և խոնավացումը և չափեք դիմադրության կրիտիկական արժեքը:

Հիմնական տեխնիկական պարամետրերը
1. Ազդանշանի աղբյուր՝ DC, սինուսային ալիք, քառակուսի ալիք;
Հաճախականության միջակայք՝ սինուսային ալիք 50Hz ~ 100kHz;քառակուսի ալիք 50 Հց - 1 կՀց;
Լայնության ճշգրտման միջակայք. սինուսային ալիք, քառակուսի ալիք 0~8Vp-p;DC 2-8V;
2. Դիմադրության տուփ՝ 1Ω～100kΩ, նվազագույն քայլ 1Ω, ճշգրտություն 1%;
3. Կոնդենսատորի տուփ՝ 0,001~1μF, նվազագույն քայլը 0,001μF, ճշգրտությունը 2%;
4. Ինդուկտիվության տուփ. 1~110mH, նվազագույն քայլը 1mH, ճշգրտությունը 2%;
5. Այլ տարբեր պարամետրեր նույնպես կարող են հարմարեցվել:Կրկնակի հետքի օսցիլոսկոպը պետք է ինքնուրույն պատրաստվի: