LB-820 UV-Vis NIR սպեկտրոֆոտոմետր

Գործիքի առանձնահատկությունները

Երկփողանի օպտիկական համակարգի նախագծումը նվազեցնում է ֆոնային միջամտությունը և բարելավում է փորձարկման ճշգրտությունը։

Գործիքի ընդունիչ մասերը բոլորը ներմուծված սարքեր են, որոնք ապահովում են գործիքի բարձր արդյունավետությունը և կայունությունը։

Սարքի կառավարումը (օրինակ՝ ցանցային փոխակերպումը, ֆիլտրի փոխակերպումը, ընդունիչի փոխակերպումը, ալիքի երկարության սկանավորումը և այլն) ամբողջությամբ կառավարվում է համակարգչի կողմից, իսկ ինտերֆեյսը USB2.0 է: Սարքի միացումը պարզ է, ինչը զգալիորեն բարելավում է կապի արագությունը:

Ինտեգրված օպտիկական թեստավորման համակարգի ծրագիրը կարող է ընտրվել՝ շենքային ապակու տեսանելի լույսի թափանցելիությունը, ուղիղ արևի լույսի թափանցելիությունը, ուղիղ արևի լույսի անդրադարձումը և այլ հարակից պարամետրերը ավտոմատ կերպով հայտնաբերելու համար։

Արեգակնային էներգիայի ընդհանուր թափանցելիությունը և պատուհանի ապակու տարբեր բաղադրիչների արևային ճառագայթման ջերմության նկատմամբ պաշտպանիչ գործակիցը կարելի է ստանալ ապակե կիսագնդային ճառագայթման դետեկտորի հետ համագործակցելով։

Կարելի է ընտրել հատուկ նմուշային փորձարկման պարագաներ։

Ծրագիրը սահմանում է ներմուծման ֆունկցիան, որը կարող է ներմուծել տվյալներ տեքստային ձևաչափով։

Նմուշային տվյալների իրական ժամանակի չափում, թեստի արդյունքների տվյալները կարող են արտահանվել:

Ծրագիրը կարող է աշխատել WinXP և Win7 օպերացիոն համակարգերում։

Տեխնիկական պարամետրեր

1. Լույսի աղբյուր՝ ներմուծված դեյտերիումային լամպ, վոլֆրամային բրոմիդային լամպ

2. Ալիքի երկարության միջակայք (նմ): 190-3200նմ

3. Ալիքի երկարության ճշգրտություն (նմ): ± 0.5 (UV / VIS); ± 4 (NIR)

4. Ալիքի երկարության կրկնելիություն (նմ): ≤ 0.3 (UV / VIS); ≤ 2 (NIR)

5. Շերտագիծ (նմ): 0.2-5 (UV-Vis), 1-20 (NIR)

6. Փոխանցման ճշգրտություն (% t): ± 0.3

7. Փոխանցման տեսակարար կշիռը վերաձևավորման դեպքում (% t): ≤ 0.2

8. Թափառող լույս (% t): ≤ 0.2% t (220 նմ, NAI)

9. Աշխատանքային ռեժիմ՝ թափանցելիություն, կլանողականություն, անդրադարձունակություն, էներգիա

10. Ծրագրային ֆունկցիա. հաճախորդների սովորույթին համապատասխան, համապատասխան փորձարկման ինտերֆեյսի ֆունկցիան կարող է հարմարեցվել՝ փորձարկման նմուշի թափանցելիությունը, կլանումը և բացարձակ արտացոլումը չափելու համար:

11. Նմուշառման միջակայք՝ 0.1նմ, 0.2նմ, 0.5նմ, 1նմ, 1.5նմ, 2նմ, 5նմ, 10նմ

12. Լուսաչափական միջակայք՝ 0 ~ 2.5A

13. Հիմնական գծի հարթություն՝ ± 0.004ա (200-2500 նմ, 30 րոպե նախնական տաքացումից հետո)

14. Հոսթի ինտերֆեյս՝ USB2.0

15. Չափսեր (մմ): (ձև) 830 * 600 * 260, (նմուշային սենյակ) 120 * 240 * 200

16. Փորձարկման նմուշի սպեցիֆիկացիա (մմ): 30 ~ 110, հաստություն ≤ 20

17. Քաշը (կգ): մոտ 65

18. Հիմնական կոնֆիգուրացիա.

UV Vis NIR սպեկտրոմետրի հոսթ, USB տվյալների մալուխ, քվարցային կյուվետ, զրոյական բլոկ, կիրառական ծրագրակազմ, օժանդակ գործիքներ և այլն (ստանդարտ է պինդ և հեղուկ պարագաների հավաքածուն)

Ապակու համապարփակ օպտիկական թեստավորման համակարգի ծրագիրը պարտադիր չէ

*Օգտատերերը պետք է ապահովեն իրենց սեփական համակարգիչներն ու տպիչները

Ընտրելազգային պարագաներ

Zf820-1 ինտեգրող գնդային պարագաներ

Φ 60 մմ տրամագծով կրկնակի դետեկտորներ, 380-2500 նմ

Zf820-2 պինդ նմուշի չափման պարագաներ

Սեղմող ոսպնյակի միջակայքը՝ տրամագիծ՝ Φ 10-36 մմ; հաստություն՝ 0.5-10 մմ

Zf820-3 արտացոլման չափման լրասարք

Դեպքի անկյունը 5 աստիճան է, իսկ անդրադարձման սպեկտրը չափվում է

Ծրագրային ապահովում

Սարքի աշխատանքային ծրագիրն ունի հարուստ թեստավորման և վերլուծության գործառույթներ, որոնք կարող են չափել թափանցելիությունը, կլանումը, էներգիան և անդրադարձունակությունը: Այն ունի սպեկտրի սկանավորման, ֆիքսված կետում չափման և բազմալիքային երկարության չափման գործառույթներ: